Optické

Paletový systém ZEISS OMEGA je určen pro optická měřicí zařízení ZEISS O-INSPECT, O-DETECT a O-SELECT. K dispozici jsou palety s hladkým povrchem, skleněné, které jsou vhodné pro měření v procházejícím světle, nebo černé eloxované palety s rastry otvorů, vhodné pro vaše vlastní konstrukce s různými velikostmi závitů.